DEFAULT 

Реферат принцип работы электронного микроскопа

tisbvinggisa1983 3 comments

Руденберг получил патент на просвечивающий электронный микроскоп , а в году М. С помощью растровой электронной микроскопии можно получить информацию о химическом составе в тех или иных участках клеток. Та образца, которая на ячейках между сеточки, и будет под электронным. В вакуумном объёме камеры находится: вытягивающий электрод сетка 9 ,ускоряющий электрод 6 , сцинтиллятор 8 и светопровод 7. В конденсорной линзе электронов фиксируется и на объект, с электроны взаимодействуют, , рассеиваются, поглощаются или без изменения. Одним из них был разработанный Броэрсом источник электронов с катодом из гексаборида лантана - LaB.

Основная статья: Просвечивающий растровый электронный микроскоп. Основная статья: Растровый электронный микроскоп. Этот раздел имеет чрезмерный объём или содержит маловажные подробности. Если вы не согласны с этим, пожалуйста, покажите в тексте существенность излагаемого материала. Подробности могут быть на странице обсуждения. Это не соответствует правилам Википедии.

Вы можете помочь проекту, исправив текст согласно стилистическим рекомендациям Реферат принцип работы электронного микроскопа. Основы физики. Том 2. FEI Company. Дата обращения 12 декабря В этой статье не хватает ссылок на источники информации. Информация должна быть проверяемаиначе она может быть поставлена под сомнение и удалена. Вы можете отредактировать эту статью, добавив ссылки на авторитетные источники.

Она была получена на серийном растровом электронном микроскопе при обычных условиях работы. Одним из них был разработанный Броэрсом источник электронов с катодом из гексаборида лантана - LaB.

Читать онлайн Скачать диплом. Принцип действия электронных омметров. Основные метрологические и технические характеристики цифрового омметра Щ Определение измеряемой величины, наименование единицы измеряемой величины в системе СИ. Условия поверки прибора и подготовка к.

Реферат принцип работы электронного микроскопа 8288

Пористая матрица арсенида галлия и ее структурные свойства. Формирование низкоразмерной среды в арсениде галлия. Определение кристаллографической ориентации подложек. Определение концентрации носителей заряда.

Реферат принцип работы электронного микроскопа 4144

Оптическая и электронная микроскопия. Работы в архивах красиво оформлены согласно требованиям ВУЗов и содержат рисунки, диаграммы, формулы и т. Рекомендуем скачать работу и оценить ее, кликнув по соответствующей звездочке. Главная База знаний "Allbest" Коммуникации, связь, реферат принцип работы электронного микроскопа приборы и радиоэлектроника Электронная микроскопия - подобные работы.

ЭМ нашла широкое применение в морфологии, микробиологии, вирусологии, иммунологии, генетике, биохимии, онкологии [10]. Поэтому, если требуется детальное изучение образца, необходимо его фотографировать. Работая с электронным микроскопом, следует соблюдать правила техники безопасности.

Большинство реагентов, применяемых в электронной микроскопии, ядовиты, и обращаться с ними надо осторожно. Всю пробоподготовку проводить в халате и резиновых перчатках [11]. Тетраоксид осмия токсичен и очень летуч, работать с ним разрешается только в вытяжном шкафу. Пары тетраоксида осмия раздражают дыхательные пути и могут вызвать тяжелые поражения глаз. Раствор едкий и вызывает ожоги.

При попадании на кожу необходимо немедленно смыть проточной водой. Ацетон легко воспламеняется, с ним нельзя работать возле открытого пламени. При длительном вдыхании может вызывать поражение печени.

Эпоксидные смолы, применяемые для заливки эпон, Агар токсичны и могут вызывать дерматит. В экспериментах на животных показано, что эти вещества обладают канцерогенными свойствами. Работать только в перчатках! Свинец, содержащийся в используемом для контрастировании срезов цитрате свинца, способен проникать через неповрежденную кожу.

Если цитрат свинца разливается и высыхает, свинец вместе с пылью попадает в дыхательные пути. До и после работы с ним следует тщательно вытирать стол и мыть руки [12]. Между и анодом подается напряжение от 50 до кВчто служит причиной электронов. В центре есть отверстие, через электроны формируютидущий вниз по микроскопа. Линзы микроскопа из себя электромагниты, которых может путь электронов стеклянные изменяют путь. В конденсорной линзе электронов фиксируется и на объект, с электроны взаимодействуют,рассеиваются, поглощаются или без изменения.

2657691

Электроны, черезфокусируются объективнойкоторая формирует первичное изображение. Так же как в световомобъективная линза его основные показатели. Напряжение, используется для электронов в большинстве трансмиссионных электронныхдостигает 50 - кВ. При в современных конструкциях микроскопов достигается около 1 А 0,1 нм из-за стабильностистабильности токанеоднородности металла линз и других прибора возможно еще повысить электронного микроскопа в На экранах и электронных микроскопов увеличение до 50 раз, затем при фотопечати можно еще кратное.

В итоге конечноепри котором максимально разрешение, достигает Сегодня максимальное электронного микроскопа реализуется только при металлов или решеток. На биологических такого разрешения пока не удается низкой объекта.

Электронно-плотный материал биологический материал, окрашенный тяжелыми металлами отражает электроны, а электронно-прозрачный пропускает. Растровый электронный микроскоп позволяет также исследовать объекты при очень малых увеличениях, что особенно важно в криминалистике и ряде других областей. Герметичность вакуумных соединений обеспечивается резиновыми уплотнителями 2,7,10 при помощи гайки 9 и винта 1. Следующим шагом вперёд было усовершенствование детектора, описанного Зворыкиным и др. Манометрическая лампа ЛМ представляет собой стеклянный или металлический корпус, в котором на двух вводах смонтирован платиновый или никелевый подогреватель 3, на двух других вводах крепится термопара 4, изготовленная из хромель-копеля или хромель-алюмеля.

Вирусы, на поддерживающейвидны в данном в виде бесструктурныха молекулы нуклеиновых толщина ДНК 20 А вообще не видны низкого контраста. При пучка электронов биологический часть электроновчто приводит к нагреванию и к его деформации.

В этой требуется реферат принцип работы электронного микроскопа тонкие не выше 0,1 мкм. Клетки и ткани для сначала фиксируют. В фиксаторов используются растворы альдегида. Применяется фиксация: сначала альдегидом, а затемкоторый как металл контрастирует структуры. Затем, обезвоживания, ткани эпоксидными или другими пластиками вмономерной форме. При таких пластмасс ими объект заключенным в твердыекоторые уже можно на тонкие срезы.

Дипломная работа: Устройство и принцип работы растрового электронного микроскопа

Для этого соли свинца икоторые связываясь с структурами на срезе, их контрастируют. В электронно-микроскопических возможно применение. В этом случае сверхтонкозернистые эмульсии гранул 0,02 - 0,06 мкм. Смит первым ввёл стигматор в РЭМ. Следующим шагом вперёд было усовершенствование детектора, описанного Зворыкиным и др.

Эверхарт и Торнли непосредственно соединили световодом сцинтиллятор с торцом фотоумножителя. Под руководством Никсона Пиз создал систему с тремя магнитными линзами, пушкой в нижней части прибора и детекторной системой Эверхарта-Торнли, известную как РЭМ V.

Этот прибор был реферат принцип работы электронного микроскопа прибора марки I фирмы Cambridge Scientific Instruments и во многом был подобен прибору г.

  • Судебная патологоанатомия Макроскопическое исследование Патогистология Гистохимия Иммуногистохимическое исследование Электронная микроскопия Иммунофлуоресценция Флюоресцентная гибридизация in situ Клиническая химия Медицинская микробиология Иммунодиагностика Ферментативный анализ Масс-спектрометрия Хроматография Проточная цитометрия.
  • Затем, обезвоживания, ткани эпоксидными или другими пластиками в , мономерной форме.
  • Электронно-лучевые приборы.
  • Если ток накала или напряжение смещения становятся недостаточными, катод приобретает собственную структуру с несколькими максимумами интенсивности, а изображение исследуемого объекта на экране кинескопа становится многоконтурным или размазанным.

реферат принцип работы электронного микроскопа Естественно, что РЭМ V включал все вышеуказанные усовершенствования, которые были введены после г. Промышленный прибор лист реферата калмгу сконструирован Стьюартом с сотрудниками в Cambridge Scientific Instruments Co. Реферат принцип работы электронного микроскопа последующем десятилетии свыше растровых электронных микроскопов были проданы рядом фирм-производителей США, Великобритании, Франции, Голландии, Японии и ФРГ, которые активно занимаются разработкой новых модернизированных приборов.

Однако даже сейчас РЭМ в своей основе ненамного отличается от описанного в г. Начиная с г. Одним из них был разработанный Броэрсом источник электронов с катодом из гексаборида лантана - LaB. Электронная пушка с таким катодом обладает высокой яркостью, в результате чего стало возможным сконцентрировать больший электронный ток в меньшем по сечению пучке. Это может привести к эффективному улучшению разрешения.

Источник электронов с автоэмиссионным остриём, который использовался впервые в растровом электронном микроскопе в г. Автоэмиссионная пушка превосходна для получения высоких разрешений из-за её очень высокой яркости и чрезвычайно малых размеров источника. Автоэмиссионные источники имеют два потенциальных недостатка, один из которых - быстрое ухудшение разрешения при работе с токами, превышающими несколько наноампер, и другой связан с тем, что источник не столь стабилен, как требуется.

Из-за последнего для получения качественного изображения с такими источниками почти всегда необходимо работать с быстрой развёрткой. Другие усовершенствования связаны с механизмами контраста, которые нелегко реализовать в приборах других типов. Так, кристаллографический контраст, формирующийся за счёт ориентации кристалла и взаимодействия его решётки с первичным пучком, был обнаружен Коутсом и первоначально разработан сотрудниками Оксфордского университета.

Магнитный контраст в некоторых некубических материалах наблюдался одновременно, но независимо Бэнбери и Джоем. Магнитный контраст в кубических материалах впервые наблюдался Филибером и Тиксье, а механизм контраста был объяснён позже Фазерсом и др. Часто контраст наблюдаемых деталей настолько незначителен, что оказывается незаметным для глаза, в связи с чем становилось необходимым усиление контраста за счёт обработки сигнала.

Вначале обработка сигнала включала нелинейное усиление сигнала и дифференциальное усиление подавление уровня чёрногокак это было сделано в растровом электронном микроскопе в Кембриджском университете. Использование при обработке производной сигнала дифференцирования для подчёркивания мелких деталей было введено позже.

Наномир. Сканирующий туннельный микроскоп.

Большинство серийных растровых электронных микроскопов, которые выпускаются в настоящее время, обладают всеми этими возможностями обработки сигнала.

Обработка изображения может проводиться либо в аналоговой, либо в цифровой форме. Были разработаны системы для запоминания изображений; таким образом, можно наблюдать изображение и работать с ним, включив пучок.

Такие устройства чрезвычайно полезны, стоимость их не слишком высока, но они не могут обеспечить такую универсальную обработку, как полная обработка изображения с помощью малой ЭВМ.

В пластинчато-роторных насосах рабочая камера состоит из ряда ячеек объемом V , образуемых между соседними пластинами, причем число ячеек равно числу пластин z,. Начиная с г. Информация должна быть проверяема , иначе она может быть поставлена под сомнение и удалена. Далее пучок проходит через систему увеличивающих линз и формирует изображение на люминесцентном экране как правило, из сульфида цинка , фотопластинке или ПЗС-камере. Диаметр канала полюсных наконечников объектива выбран достаточно большим 30 мм для того, чтобы большинство практически встречающихся образцов можно было вводить в пределы немагнитного зазора.

Уайт с сотрудниками разработал серию программ для обработки изображений с помощью малой ЭВМ, которые называются CESEMI и с помощью которых можно получать большое количество информации, такойкак размер зёрен, количество присутствующих фаз и т. Для использования всех возможностей этих программ требуется сканирование по точкам, при котором координаты точек изображения и интенсивность сигнала в точке подаются на ЭВМ.

Фактически ЭВМ находится во взаимодействии с растровым электронным микроскопом и управляет его работой. Большая глубина фокуса, присущая растровому электронному микроскопу, позволяет осуществлять стереонаблюдение трёхмерных объектов.

Маркетинговая деятельность фирмы рефератВан гог винсент докладОтчет по производственной практике в туризме
Реферат тоталитарные режимы сталина и гитлера сравнительная характеристикаБотанический сад имени цицина рефератЭссе мой любимый певец
Реферат медицина в математикеИрвин шоу люси краун рецензияРеферат грамматика французского языка

Разработаны приспособления, которые используют эту особенность прибора и позволяют получить количественные характеристики топографии поверхности. Описаны также устройства для прямого стереонаблюдения образцов в растровом электронном микроскопе. Добавление детектора рентгеновского излучения с дисперсией по энергии к рентгеновскому микроанализатору послужило сигналом к возможному сопряжению таких приставок с растровым электронным микроскопом.

Сейчас большинство растровых электронных микроскопов оснащено устройствами для рентгеновского анализа. Таким образом, зачастую быстро и эффективно может быть получена информация о топографии, кристаллографии и составе исследуемого образца.

Электронный микроскоп

В основе микроскопа микроскопа лежит принцип сканирования исследуемой поверхности тонким электронным зондом. В результате взаимодействия зонда с веществом образуются разные токи, которые улавливаются соответствующими приёмниками и преобразуются в видеосигнал. Полученный видеосигнал поступаёт на телевизионный тракт, где он усиливается, преобразуется в телевизионный сигнал с последующим воспроизведением изображением на экране кинескопа видеоконтрольного устройства.

Тонкий электронный зонд на поверхности исследуемого образца формируется электронной оптической системой микроскопа рисунок 1. Анод пушки заземлен, а к катоду приложено ускоряющее напряжение отрицательной полярности. На управляющий электрод, подается отрицательное относительно катода напряжение смещения, которое позволяет регулировать ток пучка, выходящего из пушки, Напряжение смещения образуется в результате протекания тока эмиссии катода по сопротивлению смещения.

Известно два режима работы пушки: режим насыщения и режим пространственного заряда. В этом режиме пучок имеет структуру, определяемую неоднородностями эмиссии с катода. Эти неоднородности видны на контрольном экране в виде расходящихся полос.

Вызываются они структурой вольфрамовой проволоки, образовавшейся в процессе изготовления. Режим насыщения образуется при недостаточной эмиссии катода то есть при недостаточном токе накала и малом по абсолютной величине напряжении смещения. Этому может также способствовать слишком большая длина катода, в результате чего его вершина входит внутрь отверстия управляющего электрода.

В облаке происходит работы электронов, эмитированных различными участками катода, поэтому электронный пучок не несет на себе следов структуры самого катода. Рабочим режимом пушки является режим пространственного заряда.

Переход от режима насыщения к режиму пространственного заряда осуществляется путем увеличения тока накала или увеличением по абсолютной величине напряжения отрицательного смещения. Ток накала должен устанавливаться таким, чтобы дальнейшее его увеличение не вызывало повышение яркости пятна на экране. С течением времени происходит испарение материала катода, его диаметр уменьшается и для поддержания неизменной температуры катода следует несколько снижать ток накала по сравнению с первоначальным.

Это способствует увеличению срока службы электронного. В рабочем режиме распределение температуры по длине катода сказывается резко микроскопа. Концы катода охлаждаются держателями, а на вершине катода происходит некоторое снижение температуры за счет отбора эмитированных электронов.

В этих местах охлаждающее действие держателей не сказывается, а ток эмиссии не отбирается. Здесь в результате наиболее интенсивного термического испарения и происходит, как правило, перегорание катода. Если перегорание катода происходит на вершине, это свидетельствует обычно о неправильном режиме работы пушки или чаще всего плохом вакууме в колоне микроскопа.

В условиях плохого вакуума происходит интенсивное разрушение вершины катода положительными ионами остаточного газа. При работе пушки с небольшим по абсолютной величине напряжением смещения удается получить более интенсивный электронный пучок и, следовательно, более контрастное изображение.

Но при этом получения режима пространственного заряда приходится сильнее накаливать катод, что приводит к сокращению срока его службы. Поэтому, когда это возможно, особенно при работе микроскопа с небольшими увеличениями целесообразно увеличивать напряжение смещения и снижать ток накала, что поможет увеличить срок службы катода. Если ток накала или напряжение смещения становятся недостаточными, катод приобретает собственную структуру с несколькими максимумами интенсивности, а изображение исследуемого объекта на экране кинескопа становится многоконтурным или микроскопа.

Электронный пучок выходящий из пушки, имеет форму слабо расходящегося конуса, вершина которого, кроссовер, лежит между анодом и управляющим доклады по географии атмосфера.

[TRANSLIT]

Кроссовер, отображается с уменьшением в плоскости исследуемого образца посредством двух линзовой оптической системы. Первая линза — конденсор даёт промежуточное уменьшенное изображение кроссовера, которое затем перебрасывается в плоскость образца второй линзой — объективом.